平均键能方法在应变层异质结带阶研究中的应用

• 作者: 何国敏 李书平 王仁智 蔡淑惠 郑永梅
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 异质结 平均键能方法 价带偏移
• 年，卷（期）: 2000,（8）
• 所属期刊栏目: 原子和分子物理学
• 页码范围: 1441-1446
• 页数: 6页
• 分类号: O4
• 字数: 5254字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2000.08.007

摘要

将平均键能方法推广应用于应变层异质结的带阶研究.通过流体静压力应变和单轴应变对带阶参量Emv作用的仔细研究,发现平均带阶参量Emv,av=Em-Ev,av在不同应变状态下基本上保持不变.因此,在应变层带阶参量Emv的计算中,只需计算其发生应变前体材料的带阶参量Emv,o值并引用形变势b和SO裂距Δ0的实验值,通过简便的代数运算得到应变层的Emv值,从而方便地预言不同应变层异质结的带阶.该简化计算方案计算量小,并更直接地引用材料实验参量值以提高计算结果的可信度

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李书平	厦门大学物理学系	23	51	3.0	5.0
2	王仁智	厦门大学物理学系	14	35	3.0	5.0
3	郑永梅	厦门大学物理学系	10	18	3.0	3.0
4	蔡淑惠	厦门大学物理学系	22	76	6.0	7.0
5	何国敏	厦门大学物理学系	7	12	2.0	3.0