Bi2Sr2CaCu2-xSnxO8+δ系列超导体的XRD和XPS研究

• 作者: 周映雪 张新夷 徐彭寿 李旗 潘海斌 祝传刚
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Bi系超导体 掺杂 X射线衍射 光电子能谱
• 年，卷（期）: 2000,（10）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质：电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 2055-2058
• 页数: 4页
• 分类号: O4
• 字数: 3020字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2000.10.031

摘要

实验研究了Bi2Sr2CaCu2-xSnxO8+δ的X射线衍射(XRD)和光电子能谱(XPS).实验发现随着掺杂(Sn)量的增加,晶格参数a和c都有所变化,O1s和Cu2p芯能级谱也发生了变化.实验结果表明: 在低掺杂量时,Sn主要呈二价态;而在高掺杂浓度时呈四价态;掺Sn对超导电性的影响与其他元素的掺杂不同.这些实验结果支持化学环境在高温超导样品的电子结构中起着重要作用的结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐彭寿	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	70	488	10.0	19.0
2	潘海斌	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	26	230	5.0	15.0
3	周映雪	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	7	10	2.0	3.0
4	张新夷	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	35	151	8.0	11.0
5	祝传刚	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	3	2	1.0	1.0