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摘要:
利用正电子湮没寿命谱(PAT)和X射线电子能谱(XPS)研究了掺镧所引起的PbWO4晶体缺陷的变化.结果表明:掺镧后,PbWO4晶体中的正电子捕获中心铅空位(VPb)浓度增加,并进一步诱导低价氧浓度的增加.讨论了掺La的作用机制,认为掺La将抑制晶体中的氧空位,增加铅空位浓度.
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文献信息
篇名 掺镧PbWO4闪烁晶体的缺陷研究
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 掺镧钨酸铅晶体 正电子湮没寿命谱 X射线电子能谱 缺陷
年,卷(期) 2000,(10) 所属期刊栏目 凝聚物质:结构、热学和力学性质
研究方向 页码范围 2007-2010
页数 4页 分类号 O4
字数 2581字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3290.2000.10.021
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掺镧钨酸铅晶体
正电子湮没寿命谱
X射线电子能谱
缺陷
研究起点
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物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
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1933
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