ZnO薄膜原子力显微镜图像的多重分形谱

• 作者: 傅竹西 吴自勤 孙霞 熊刚
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 年，卷（期）: 2000,（5）
• 所属期刊栏目: 总论
• 页码范围: 854-862
• 页数: 9页
• 分类号: O4
• 字数: 6042字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2000.05.008

摘要

用原子力显微镜测定了Si衬底,未退火和退火ZnO薄膜的表面形貌,为了获得AFM图像的多重分形谱,比较了5种计算局域高度分布概率的方法(相对平均高度的方差、相对平均高度的绝对偏离、以粗糙表面最低点为基准面、以一定深度为基准面和以薄膜平均底面为基准面).发现前三种方法在小概率的子集起主要作用时不能很好地满足标度不变性,后两种方法则能很好地满足标度不变性,其范围可达三个数量级,并且可以对不同样品进行定量的比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊刚	中国科学技术大学物理系	30	283	9.0	16.0
2	傅竹西	中国科学技术大学物理系	53	808	17.0	27.0
3	孙霞	中国科学技术大学基础物理中心	30	317	9.0	17.0
4	吴自勤	中国科学技术大学基础物理中心	33	324	9.0	17.0