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单片机开发
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虚拟开发环境
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文献信息
篇名 单片机开发调试应注意的问题
来源期刊 电子产品世界 学科 工学
关键词
年,卷(期) 2000,(7) 所属期刊栏目 嵌入式系统
研究方向 页码范围 56
页数 1页 分类号 TP3
字数 729字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-5517.2000.07.030
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 梁合庆 国家电力公司自动化研究院 7 67 3.0 7.0
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期刊影响力
电子产品世界
月刊
1005-5517
11-3374/TN
大16开
北京市复兴路15号138室
82-552
1993
chi
出版文献量(篇)
11765
总下载数(次)
14
总被引数(次)
19602
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