膜环境高温对下丘脑神经元膜上钾通道电压依赖性的影响

• 作者: 朱受成 蔡春青 邹飞
• 来源期刊: 中国病理生理杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 温度 钾通道 下丘脑 神经元
• 年，卷（期）: 2000,（5）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 440-442
• 页数: 3页
• 分类号: R594.1
• 字数: 2153字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-4718.2000.05.016

摘要

目的:观察膜环境高温对下丘脑神经元延迟整流性K+通道(IK)电压依赖性的影响.方法:采用细胞贴附式的膜片钳技术.结果:高温可影响通道的电压依赖性,使电压依赖曲线发生正向移位,过高温度则使电压依赖性减弱甚或丧失.结论:IK电压依赖性的变化可能参与机体的发热和中暑发病过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹飞	第一军医大学高温医学研究室	63	313	10.0	14.0
2	蔡春青	第一军医大学高温医学研究室	11	19	3.0	4.0
3	朱受成	第一军医大学高温医学研究室	7	32	4.0	5.0