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摘要:
【正】 Y2000-62295 00141671999年 IEEE 第七届集成电路物理与失效分析国际研讨会会议录=1999 IEEE proceedings of 7th internation-al symposium on the physical & failure analysis of inter-grated circuits[会,英]/IEEE Electron Device Society.—IEEE,1999.—162P.(EC)本会议录收集了于1999年7月5~9日在新加坡召开的集成电路物理与失效分析研讨会上发表的42篇论文,内容涉及失效分析技术,工艺与器件,封装与金属化,介电材料,热载流子,静电应力/静电放电与锁存器,专用器件的物理分析与可靠性。Y2000-62344 00141681999年 IEEE 辐射效应数据专题研讨会会议录=1999
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机载武器系统
软件
可靠性工程
管理
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 可靠性工程与环境工程
来源期刊 电子科技文摘 学科 工学
关键词 失效分析技术 可靠性工程 环境工程 会议录 集成电路 介电材料 辐射效应 热载流子 静电应力 静电放电
年,卷(期) dzkjwz_2000,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 7-7
页数 1页 分类号 TN
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研究主题发展历程
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失效分析技术
可靠性工程
环境工程
会议录
集成电路
介电材料
辐射效应
热载流子
静电应力
静电放电
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子科技文摘
月刊
1009-0851
11-4388/TN
16开
1999
chi
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10413
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