基于VXI总线的综合测试系统设计

• 作者: 潘晓玲
• 来源期刊: 光电对抗与无源干扰
• 学科: 工学
• 关键词: VXI总线 测试系统 故障诊断
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 计算机应用技术
• 页码范围: 37-41
• 页数: 5页
• 分类号: TP3
• 字数: 2840字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1255.2001.03.008

摘要

本文对VXI总线测试系统基本特点和一般应用进行阐述,供从事检测设备专业的人员参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘晓玲		1	0	0.0	0.0