CCD激光微位移测量系统的测量头设计

• 作者: 姜勤波 朱满林 石成英
• 来源期刊: 激光杂志
• 学科: 工学
• 关键词: 三角法测量 CCD芯片 几何参数 光学系统参数
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 激光物理
• 页码范围: 40-42
• 分类号: TN24
• 字数: 1779字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-2743.2001.02.015

摘要

CCD位移测量装置就是运用CCD技术设计的一种超高精度高速非接触激光位移测量仪器。其中测量头的设计是影响测量精度和测量系统整体性能的最主要因素。本文着重论述了测量头几何参数和光学系统参数的选择和计算。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石成英	第二炮兵工程学院一系	31	173	7.0	12.0
2	朱满林	第二炮兵工程学院一系	12	57	5.0	7.0
3	姜勤波	第二炮兵工程学院一系	23	134	7.0	10.0