用薄靶厚衬底方法测量电子碰撞引起的K壳层电离截面

• 作者: 周长庚 唐昶环 安竹 罗正明
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 电离截面 薄靶厚衬底 修正方法
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 169-173
• 页数: 5页
• 分类号: O562.4|TL814
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2001.02.013

摘要

用能谱仪测量特征X射线，从而导出元素钛和钒的K壳层电离截面。为克服制靶困难，实验中采用薄靶厚衬底方法。通过电子输运计算，由厚衬底产生的反射电子对计数的影响得以修正。将结果和Green等的半经验公式以及Jessenberger等的测量数据进行了比较。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	安竹	四川大学原子核科学技术研究所	24	49	4.0	6.0
2	周长庚	四川大学原子核科学技术研究所	3	4	1.0	2.0
4	罗正明	四川大学原子核科学技术研究所	13	98	5.0	9.0
7	唐昶环	四川大学原子核科学技术研究所	1	0	0.0	0.0