电容型试品介质损耗变化的原因与分析

• 作者: 叶振捷 黎洪昌
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 学科: 工学
• 关键词: 电容型试品 介质损耗 试验
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 所属期刊栏目: 绝缘子
• 页码范围: 7-12
• 页数: 6页
• 分类号: TM216++.5
• 字数: 3846字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8337.2001.04.002

摘要

对电流互感器、电压互感器和电容式套管等电容型试品在不同电压、不同温度条件下一次对末屏介质损耗的试验结果进行了分析,根据tanδ值变化情况可以判断其绝缘缺陷。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶振捷		2	3	1.0	1.0
2	黎洪昌		1	2	1.0	1.0