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摘要:
报道了第49届丹佛X射线年会的概况。会议期间,关于微束装置及其分析技术、全反射技术与应用、探测器研制、薄层分析、样品制备、半导体材料分析等,受到广泛关注。
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文献信息
篇名 参加第49届丹佛X射线年会有感
来源期刊 岩矿测试 学科 化学
关键词 X射线分析会议
年,卷(期) 2001,(1) 所属期刊栏目 综述与学术交流
研究方向 页码范围 55-56
页数 2页 分类号 O657.34
字数 2050字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0254-5357.2001.01.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 罗立强 43 507 14.0 21.0
2 马光祖 6 30 3.0 5.0
3 梁国立 18 170 6.0 13.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
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二级引证文献  (0)
2001(0)
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  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
X射线分析会议
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
岩矿测试
双月刊
0254-5357
11-2131/TD
大16开
北京市西城区百万庄大街26号
2-313
1982
chi
出版文献量(篇)
2641
总下载数(次)
12
总被引数(次)
29723
论文1v1指导