X射线荧光光谱法测定土壤和水系沉积物中的痕量铪和锆

• 作者: 李国会
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 粉末样品压片 X射线荧光光谱 散射线内标法 铪 锆
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 实验技术与实验装置
• 页码范围: 217-219
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34|O614.413
• 字数: 1747字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2001.03.013

摘要

采用粉末样品压片制样，用3080E2型X射线荧光光谱仪直接测定水系沉积物和土壤样品中的痕量铪和锆，使用干扰系数校正谱线重叠干扰，采用散射线内标和经验系数法校正元素间的吸收-增强效应。方法的检出限为1.0μg/g Hf和1.7μg/gZr，精密度试验统计结果，μg/g级铪和锆测定的RSD(n=10)<2.5%。方法经国家一级地球化学标准物质检验，结果与标样值符合。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李国会	中国地质科学院物化探所	34	595	14.0	23.0