串行Flash存储器及其在智能检测仪表中的应用

• 作者: 印士波 高延滨
• 来源期刊: 应用科技
• 学科: 工学
• 关键词: 串行Flash AT45D041 智能检测仪表
• 年，卷（期）: 2001,（7）
• 所属期刊栏目: 控制工程
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TP272
• 字数: 1171字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-671X.2001.07.011

摘要

以大容量串行Flash存储器AT45D041为例，介绍了该芯片的工作原理与单片机的接口方法等内容，并结合数字式心电记录盒介绍了该器件在智能检测仪表中的具体应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高延滨	哈尔滨工程大学自动化学院	70	461	11.0	17.0
2	印士波	哈尔滨工程大学自动化学院	3	55	3.0	3.0