X-射线荧光光谱法测定溶样后熔融制样金属硅中铁、铝、钙、钛、磷、铜

• 作者: 宋义 李旭辉 谷松海
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 化学
• 关键词: X-射线荧光光谱仪 金属硅 熔融残渣制样方法
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 400-403
• 页数: 4页
• 分类号: O657
• 字数: 2918字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0593.2001.03.041

摘要

本文提出了溶解、蒸干然后用熔剂熔融残渣的样品制备方法，解决了金属硅不易直接熔融制样的难题，可以同时测定金属硅中多种杂质元素，消除了基体效应的影响，克服了标准样品对测定的限制，测定范围广，准确度高，通过安排正交试验确定了样品制备条件。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谷松海		22	144	8.0	11.0
2	宋义		8	85	5.0	8.0
3	李旭辉		2	32	2.0	2.0