G-M计数管的可靠性

• 作者: 张皓 李继源 来永芳 邹本日
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: G-M计数管 可靠性 寿命 失效率
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 89-93
• 页数: 5页
• 分类号: TL811.3
• 字数: 5023字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2001.02.003

摘要

所介绍的采用新结构、新材料、新工艺制造的G-M计数管具有很好的可靠性,其连续工作寿命在5×1011以上,可连续工作十几年,断续工作寿命(类似于储存寿命)约是20a,在此期间的失效率在5×10-6/h以下。卤素G-M计数管的可靠性与电离室、半导体探测器、闪烁体光电倍增管探头相当。