碲镉汞光化学氧化钝化及机理分析

• 作者: 冯文清 史衍丽 吴兴惠 沈光地 陈铁金
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 碲镉汞光电导探测器 光化学氧化 阳极氧化 XPS分析 机理
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 13-16
• 页数: 4页
• 分类号: TN213
• 字数: 2682字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2001.02.005

摘要

采用光化学氧化钝化方法,首次实现了对n型碲镉汞光电导探测器的表面钝化;利用XPS分析了不同光化学氧化条件对氧化的影响及氧化物的构成,探讨了光化学氧化钝化的机理,并对光化学氧化钝化和阳极氧化的两类探测器性能进行了比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈光地	北京工业大学电子工程系光电室	192	1444	18.0	29.0
2	吴兴惠	云南大学物理系	86	1144	19.0	29.0
3	史衍丽	北京工业大学电子工程系光电室	4	25	3.0	4.0
4	冯文清		2	1	1.0	1.0
5	陈铁金		1	1	1.0	1.0