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摘要:
提出了一种用线阵CCD对物体三维轮廓进行测量的新方法.通过矩形光栅离焦投影,产生正弦光场,利用线阵CCD对物体进行扫描采样,采用三步相移技术进行相位解调,对物体三维轮廓进行测量.重点分析讨论了用线阵CCD对物体三维轮廓进行测量的原理和特性,并给出了试验简图及实际测量结果.
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文献信息
篇名 一种用线阵CCD测量物体表面三维轮廓的新方法
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 线阵CCD 相移法 三维轮廓
年,卷(期) 2001,(6) 所属期刊栏目 研究论文与技术报告
研究方向 页码范围 451-453
页数 3页 分类号 TN386.5
字数 1588字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5868.2001.06.020
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵宏 西安交通大学机械学院激光与红外应用研究所 71 687 16.0 23.0
2 周鸿 西安交通大学机械学院激光与红外应用研究所 1 5 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
线阵CCD
相移法
三维轮廓
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
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22
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