高分断能力熔断器弧后残躯电阻

• 作者: 同济大学 孔繁虹 王季梅
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 弧后残躯电阻 铜熔体 膨胀电阻 残躯斜形部分的电阻
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 3-6
• 页数: 4页
• 分类号: TM563
• 字数: 2929字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2001.05.001

摘要

就铜熔体来说,弧后残躯电阻是由几乎在相同的时间里增长的膨胀电阻和残躯斜形部分的电阻总和.研究了影响弧后残躯电阻的主要因素,以便确定出最佳工作状态,为优化设计提供可靠的依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王季梅		103	845	16.0	25.0
2	孔繁虹		2	0	0.0	0.0
3	同济大学		1	0	0.0	0.0