SiC/SiO2界面粗糙散射对沟道迁移率影响的Monte Carlo研究

• 作者: 尚也淳 张义门 张玉明
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 6H-SiC 反型层迁移率 表面粗糙散射 指数模型
• 年，卷（期）: 2001,（7）
• 页码范围: 1350-1354
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 4291字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2001.07.030

摘要

提出了一种SiC反型层表面粗糙散射的指数模型,并对6H-SiC反型层迁移率进行了单电子的MonteCarlo模拟,模拟中考虑了沟道区的量子化效应.模拟结果表明,采用表面粗糙散射的指数模型能够使SiC反型层迁移率的模拟结果和实验值符合得更好.模拟结果还反映出有效横向电场较高时表面粗糙散射的作用会变得更显著,电子的屏蔽效应降低了粗糙散射对沟道迁移率的影响,温度升高会引起沟道迁移率降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张义门	西安电子科技大学微电子研究所	129	835	15.0	21.0
2	张玉明	西安电子科技大学微电子研究所	126	777	15.0	20.0
3	尚也淳	西安电子科技大学微电子研究所	9	53	4.0	7.0