用PW2400型X射线荧光仪测定催化裂化平衡剂上金属杂质及轻稀土含量

• 作者: 张家强 柳青娥
• 来源期刊: 国外分析仪器技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光光谱仪 催化裂化平衡剂 金属杂质 轻稀土 测定
• 年，卷（期）: gwfxyqjsyyy_2001,（1）
• 页码范围: 65-68
• 页数: 4页
• 分类号: TE624.91

摘要

本文利用X射线荧光光谱仪（XRF），采用外标法建立了测定催化裂化平衡剂上铁、镍、铜、钒、锑、钙、钠和轻稀土镧、铈、镨、钕及钐等十二种元素含量的方法。该方法准确、快速且简便，适合于对催化裂化平衡剂的常规分析和监控分析。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张家强		1	0	0.0	0.0
2	柳青娥		1	0	0.0	0.0