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摘要:
本文研究了直拉TeO2晶体中的主要晶体缺陷形成机理,讨论分析了TeO2单晶生长的工艺参数对晶体缺陷的影响。结果表明:晶体裂缝主要与温度梯度有关,温度梯度大于20~25℃/cm及出现界面翻转时,易造成晶体的开裂,位错密度增加;晶体中的包裹体主要为气态包裹体,它的形成主要与籽晶的转速和晶体的提拉速度有关,转速15~18r/min,拉速0.55mm/h,固液界面微凹,可以减少晶体中的气态包裹体;晶体台阶由晶体生长过程中温度和生长速度的起伏引起,当台阶间距较宽时,易形成包裹体。
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文献信息
篇名 声光晶体TeO2的生长及缺陷研究
来源期刊 人工晶体学报 学科 物理学
关键词 声光晶体 TeO2晶体 晶体缺陷 工艺参数
年,卷(期) 2001,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 93-98
页数 6页 分类号 O782|O77
字数 3120字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-985X.2001.01.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 桑文斌 上海大学嘉定校区电子信息材料系 53 535 15.0 20.0
2 闵嘉华 上海大学嘉定校区电子信息材料系 54 281 10.0 15.0
3 钱永彪 上海大学嘉定校区电子信息材料系 14 108 6.0 10.0
4 史伟民 上海大学嘉定校区电子信息材料系 56 313 10.0 14.0
5 李冬梅 上海大学嘉定校区电子信息材料系 15 154 6.0 12.0
6 季小红 上海大学嘉定校区电子信息材料系 1 11 1.0 1.0
7 刘冬华 上海大学嘉定校区电子信息材料系 4 20 2.0 4.0
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TeO2晶体
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研究起点
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期刊影响力
人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
出版文献量(篇)
7423
总下载数(次)
16
总被引数(次)
38029
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