用现场可编程门阵列进行VLSI设计验证

• 作者: 孙玉蛟 李芳勤 潘永俊
• 来源期刊: 长春邮电学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 超大规模集成电路 可编程序逻辑阵列 电子设计自动化
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 42-44
• 页数: 3页
• 分类号: TN47
• 字数: 1048字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-5896.2001.01.009

摘要

超大规模专用集成芯片的设计是一项比较复杂的工作。常规的设计方法成功率较低，利用EDA(电子设计自动化)技术在在线可编程逻辑器件上进行大规模集成电路(VLSI)设计验证，是超大规模集成电路设计较成功的方法，本文对该方法的可行性进行了分析，并提出了验证方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李芳勤	吉林大学计算机工程系	3	6	1.0	2.0
2	孙玉蛟	吉林大学基础部	3	6	1.0	2.0
3	潘永俊	吉林大学计算机工程系	3	21	2.0	3.0