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文献信息
| 篇名 | SOC测试中的新技术 | ||
| 来源期刊 | 通信与电子测试 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | SOC 测试系统 集成电路 | ||
| 年，卷（期） | txydzcs_2001,（1） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 38 | |
| 页数 | 1页 | 分类号 | TN407 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
五维指标
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测试系统
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相关学者/机构
期刊影响力
通信与电子测试
主办单位：
中国电子报社
出版周期：
双月刊
ISSN：
1009-6361
CN：
11-4540/TN
开本：
出版地：
北京市石景山路23号(中础大厦501室)
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
54
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1
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