高频红外碳硫分析仪测定铁沟料中游离碳和碳化硅

• 作者: 李雪冬 杜建民 王琦 胡树戈
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 铁沟料 红外吸收法 游离碳 碳化硅
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 工作简报
• 页码范围: 60-62
• 页数: 3页
• 分类号: O659.2
• 字数: 2328字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2001.02.024

摘要

本文介绍了利用高频红外碳硫分析仪，分别测定铁沟料中游离炭和碳化 硅中的一种快速、灵敏的分析方法。通过大量的条件试验，确定了最佳分析方法。 经过精密度试验，取得满意效果。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王琦		5	12	2.0	3.0
2	胡树戈		2	19	2.0	2.0
3	杜建民		19	59	5.0	6.0
4	李雪冬		5	15	2.0	3.0