大直径HgCdTe晶体的结构缺陷分析

• 作者: 吴刚 李全保 王跃 韩庆林 马庆华
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 大直径HgCdTe 结构缺陷 形貌像 回摆曲线
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 4-7
• 页数: 4页
• 分类号: TN213
• 字数: 2823字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2001.02.002

摘要

用加压-改进Bridgman法生长的大直径HgCdTe(φ=40mm)晶体,通过X射线形貌技术分析表明,晶体结构包含有大量的亚晶粒,同时在晶片中观察到夹杂、位错、应力区等结构缺陷.结合X射线双晶衍射回摆曲线分析表明,亚晶粒和测试晶面间的取向差约为40"～200",大小约为0.5 mm×0.5 mm～2 mm×2 mm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王跃		7	9	2.0	2.0
2	韩庆林		13	49	5.0	6.0
3	李全保		7	13	3.0	3.0
4	吴刚		7	25	2.0	5.0
5	马庆华		12	47	4.0	6.0