微电子器件的抗辐射加固技术

• 作者: 何君
• 来源期刊: 半导体情报
• 学科: 工学
• 关键词: 抗辐射加固 总剂量响应 单粒子效应 微电子器件
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 19-23,30
• 页数: 6页
• 分类号: TN42|TL7
• 字数: 6173字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4776.2001.02.005

摘要

对各类微电子材料的抗辐射特性进行了分析,对Si双极器件和SiCMOS器件、GaAs微波功率器件、新兴光电器件--VCSEL、LED以及MEMS的抗辐射加固技术进行了探讨,对几种空间单粒子效应(SEE)进行了研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何君		3	47	2.0	3.0