镍电极材料层错结构的X射线衍射分析

• 作者: 刑政良 吕光烈 王宁 王超群 胡广勇
• 来源期刊: 有色金属
• 学科: 工学
• 关键词: 镍电极 层错结构 X射线衍射
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 分析与检测
• 页码范围: 83-86
• 页数: 4页
• 分类号: TF803.24|TB383
• 字数: 2745字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-1744.2001.02.022

摘要

β－Ni（OH）2的X射线衍射谱的基本特征是衍射线的选择宽化，它与晶粒内部的微结构特性如微晶尺寸参数和层错缺陷结构等有关。通过镍电极材料的全谱X射线分析区分这些微结构特性、测定层错概率，解释镍电极材料的电化学性能。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡广勇		16	57	5.0	6.0
2	王超群		31	130	6.0	9.0
3	王宁		10	35	4.0	5.0
4	刑政良		1	5	1.0	1.0
5	吕光烈		1	5	1.0	1.0