高温超导薄膜微波表面电阻测试方法

• 作者: 张其劭 张映敏 罗正祥 羊恺
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 高温超导薄膜 微波表面电阻 介质谐振器 品质因数
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 633-637
• 页数: 5页
• 分类号: TM26|O514.2
• 字数: 2069字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2001.06.019

摘要

介绍一种工作在12 GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻Rs测试系统,该系统采用低损耗高介电常数的蓝宝石构成工作在TE011+8谐振模式的介质谐振器,在77 K时,利用它对高温超导薄膜的微波表面电阻Rs进行测试,提高了整个测试系统的品质因素,可成功地用于单片φ50.8mm较大超导薄膜的无损伤测试,整个测试系统体积小、操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,具有简便、快捷、适合于工业化生产检测的特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗正祥	电子科技大学微波测试中心	74	751	14.0	24.0
2	羊恺	电子科技大学微波测试中心	65	331	9.0	14.0
3	张其劭	电子科技大学微波测试中心	32	275	10.0	15.0
4	张映敏	电子科技大学微波测试中心	6	25	3.0	5.0