BIT 的发展趋势

• 作者: 封吉平 张宏伟 李志强
• 来源期刊: 华北工学院测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: BIT ATE 综合诊断 人工智能 专家系统 神经网络
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 105-108
• 页数: 4页
• 分类号: TN702
• 字数: 2709字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2001.02.008

摘要

目的分析和研究 BIT 的发展趋势. 方法论述 BIT 的发展并分析存在问题. 结果新的测试、检测和故障诊断理论和方法促进了 BIT 的发展. 结论 BIT 的发展趋势: 与 ATE 融和、综合诊断、智能化、与可测性设计结合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	封吉平	军械工程学院光学与电子工程系	40	171	8.0	10.0
2	李志强	军械工程学院光学与电子工程系	35	183	7.0	12.0
3	张宏伟	军械工程学院光学与电子工程系	64	278	8.0	14.0