超低副瓣天线平面近场测量取样方式的新准则

• 作者: 刘其中 张福顺 毛乃宏 焦永昌
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 超低副瓣天线 平面近场测量 取样间距 采样密度
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 所属期刊栏目: 天线理论与天线技术
• 页码范围: 437-440
• 页数: 4页
• 分类号: TN820
• 字数: 1011字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2001.04.005

摘要

采用实验的方法给出了用平面近场技术测量超低副瓣天线时收发天线之间的近区测试距离以及取样密度的选取准则,提出了超低副瓣天线测量对测试系统温度漂移的要求,并给出了满足系统温度漂移要求的测试方式.依据新的选取准则,实测了最佳角锥喇叭和波纹喇叭天线的E面方向图.测试结果说明,该选取准则具有良好的重复性,且重复精度为60dB±2dB.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘其中	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	130	1413	19.0	31.0
2	焦永昌	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	99	1155	17.0	27.0
3	张福顺	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	75	876	16.0	25.0
4	毛乃宏	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	27	107	7.0	8.0