测量聚合物薄膜电光系数的一种简单方法——干涉法

• 作者: 史伟 尹鑫 房昌水
• 来源期刊: 压电与声光
• 学科: 物理学
• 关键词: 聚合物薄膜 电光系数 干涉法
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 实验技术与测试方法
• 页码范围: 230-231,239
• 页数: 3页
• 分类号: O484.8
• 字数: 1393字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2474.2001.03.020

摘要

报道了一种测量聚合物薄膜电光系数的简单方法。这种方法是用石英晶体的逆压电效应补偿聚合物薄膜电光效应引起的光程变化，测量聚合物薄膜电光系数相对于石英晶体压电常数d11的大小，这种方法可以用来测量所有光学薄膜的电光系数。文章介绍了采用此方法测量几种新的聚合物薄膜的电光系数。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	房昌水		53	430	13.0	19.0
2	尹鑫		20	119	6.0	10.0
3	史伟		18	145	7.0	11.0