高分子PVP吸附对胶体Zeta电位的影响

• 作者: 刘梅堂 刘洪来 史济斌 韦园红
• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: 高分子PVP Zeta电位 吸附层厚度
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 理论研究
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TQ325|O648.12+3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-5548.2001.02.001

摘要

高分子聚合物PVP在SiO2胶体颗粒上的吸附将直接影响胶体的稳定性质，其中最重要的包括Zeta电位、吸附层厚度等。从温度、pH值、聚合物浓度以及电解质浓度4个方面考察了以上两方面的变化，初步探索了胶体表面Zeta电位变化的一般规律，并用电位法计算了胶体表面的吸附层厚度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘洪来	华东理工大学化学系	208	1445	17.0	28.0
2	韦园红	华东理工大学化学系	5	125	5.0	5.0
3	史济斌	华东理工大学化学系	32	105	6.0	9.0
4	刘梅堂	华东理工大学化学系	6	52	3.0	6.0