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摘要:
概述了低压ZnO压敏电阻材料的制备工艺、应用技术、粉料制备,以及晶界特性、导电模型、老化机理的研究进展和研究中存在的问题,并对以后的发展方向进行了展望.着重讲述了掺杂物对烧结过程、晶粒生长和晶界结构的作用以及显微结构(晶粒大小及晶界状态)均匀性对电性能和老化特性的影响,并提出了改善老化性能的关键措施.
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内容分析
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文献信息
篇名 低压ZnO压敏电阻材料研究及发展概况
来源期刊 功能材料 学科 工学
关键词 ZnO陶瓷 低压压敏电阻 显微结构 晶界 老化
年,卷(期) 2001,(4) 所属期刊栏目 综述
研究方向 页码范围 343-347
页数 5页 分类号 TQ174.758
字数 8649字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1001-9731.2001.04.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 龚树萍 华中理工大学电子科学与技术系 23 390 11.0 19.0
2 张丛春 华中理工大学电子科学与技术系 2 94 2.0 2.0
3 周东祥 华中理工大学电子科学与技术系 33 486 13.0 21.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
ZnO陶瓷
低压压敏电阻
显微结构
晶界
老化
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
功能材料
月刊
1001-9731
50-1099/TH
16开
重庆北碚区蔡家工业园嘉德大道8号
78-6
1970
chi
出版文献量(篇)
12427
总下载数(次)
30
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