由反射系数确定多层介质厚度

• 作者: 蔡钧
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 无损检测 最优化 电磁波
• 年，卷（期）: 2001,（8）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2001.08.003

摘要

讨论了测量多层介质厚度的一种新方法,根据输入电磁波反射系数,用最优化方法反演出每层介质的厚度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡钧	扬州大学工学院电子工程系	26	106	6.0	8.0