失效个数极小情况下某继电产品的可靠性评定

• 作者: 刘华 刘宏林 张可丽 张彦铎
• 来源期刊: 武汉化工学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: Weibull分布 可靠性分析 寿命试验
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 机电工程
• 页码范围: 70-71,74
• 页数: 3页
• 分类号: O342|TB330.1
• 字数: 1221字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2869.2001.01.023

摘要

为了解决在Weibull单元的某继电产品寿命试验中无失效数据或失效数据极小情况下的可靠性评定问题，应用Bayes方法，研究了可靠性下限和可靠寿命下限的解法，结果可适用于寿命试验或加速寿命实验中的II型截尾和I型截尾.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张彦铎	武汉化工学院计算机科学与工程系	27	237	9.0	14.0
2	刘宏林		1	1	1.0	1.0
3	刘华		2	1	1.0	1.0
4	张可丽		1	1	1.0	1.0