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彩色显像管阴极套管氧化状态的微观分析
彩色显像管阴极套管氧化状态的微观分析
作者:
宋静远
李仪
李朝明
董北斗
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
阴极套管
黑化处理
能谱
热子
摘要:
通过对彩色显像管阴极套管表面氧化膜的微观分析,探讨和分析了阴极套管的黑化工艺机理及阴极套管氧化状态对阴极启动特性的影响,为生产工艺的优化提供了重要参考.
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显像管
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水汽
电离
内容分析
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文献信息
篇名
彩色显像管阴极套管氧化状态的微观分析
来源期刊
真空电子技术
学科
工学
关键词
阴极套管
黑化处理
能谱
热子
年,卷(期)
2001,(4)
所属期刊栏目
研究与设计
研究方向
页码范围
15-17
页数
3页
分类号
TN141.3+2
字数
2250字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1002-8935.2001.04.005
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
李朝明
24
17
3.0
3.0
2
董北斗
18
16
3.0
3.0
3
李仪
11
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2.0
3.0
4
宋静远
6
2
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2001(0)
参考文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
阴极套管
黑化处理
能谱
热子
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
真空电子技术
主办单位:
北京真空电子技术研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1002-8935
CN:
11-2485/TN
开本:
大16开
出版地:
北京749信箱7分箱
邮发代号:
创刊时间:
1959
语种:
chi
出版文献量(篇)
2372
总下载数(次)
7
总被引数(次)
8712
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