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摘要:
X射线对气体分子具有电离作用,用一束X射线照射真空来弧室可导致真空灭弧室内残余分子电离,电离电流值与分子数有关,分子数与真空压力直接相关,因此该电流值与真空压力相对应。这一特性有助于真空灭弧室真空压力的检测。
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文献信息
篇名 用射线法检测真空灭弧室的真空压力
来源期刊 河南电力 学科 工学
关键词 真空断路器 真空灭弧室 真空压力 检测 X射线
年,卷(期) 2001,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 14-16
页数 3页 分类号 TM561.2
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄兴泉 35 642 10.0 25.0
2 张欲晓 13 175 6.0 13.0
传播情况
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1993(1)
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2001(0)
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研究主题发展历程
节点文献
真空断路器
真空灭弧室
真空压力
检测
X射线
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
河南电力
月刊
16开
郑州市金水东路56号
2008
chi
出版文献量(篇)
4227
总下载数(次)
7
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59
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