随机误差对超低副瓣天线平面近场测量的影响

• 作者: 于丁 傅德民 刘其中 毛乃宏 焦永昌
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 超低副瓣天线平面近场测量随机误差最大起伏度
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 天线理论与技术
• 页码范围: 329-333
• 页数: 6页
• 分类号: TN82
• 字数: 3548字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2001.03.011

摘要

导出了平面近场测量中近场幅相随机误差所引起的误差谱的解析表达式.利用计算机模拟和统计平均的方法研究了近场幅相随机误差对超低副瓣天线平面近场测量结果的影响,并给出不同口径尺寸的超低副瓣天线的平面近场测量,为保证-55dB副瓣±5dB的测试精度,所能允许的近场幅相随机误差的最大起伏度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘其中	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	130	1413	19.0	31.0
2	焦永昌	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	99	1155	17.0	27.0
3	傅德民	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	59	546	12.0	21.0
4	于丁	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	17	78	6.0	8.0
5	毛乃宏	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	27	107	7.0	8.0