简易元器件温度测试箱设计

• 作者: 孙保良 邢福成 黄盛林
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 元器件 温度 测试箱
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 技术与应用
• 页码范围: 22-23
• 页数: 2页
• 分类号: TP2
• 字数: 1570字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2001.03.010

摘要

文中介绍一种用于元器件温度筛选测试箱的设计方法.并给出系统硬件设计和软件设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙保良		23	53	5.0	6.0
2	邢福成		21	85	5.0	8.0
3	黄盛林		3	23	2.0	3.0