通过扰动磁场识别缺陷

• 作者: 孙晓云 盛剑霓 陈德智
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 涡流检验 缺陷识别 场量分析
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 47-50
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28+4
• 字数: 3207字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2001.02.001

摘要

在涡流检测中,扰动磁场的分布比线圈的阻抗能够更好地反映缺陷信息.研究缺陷参数与扰动磁场的对应关系,通过扰动磁场的分布识别缺陷.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	盛剑霓		35	359	12.0	17.0
2	陈德智		7	101	6.0	7.0
3	孙晓云		8	190	8.0	8.0