涂样量对纳克级硼同位素测定的影响

• 作者: 孙爱德 张崇耿 王庆忠 肖应凯 魏海珍
• 来源期刊: 质谱学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 硼 涂样量 同位素丰度比值 正热电离
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 56-60
• 页数: 5页
• 分类号: P5
• 字数: 2154字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2997.2001.03.010

摘要

在石墨存在下,用正热电离质谱法,使用Cs2BO2+离子测定了含100、50、20 ng和10 ng B的NIST SRM 951硼酸标样中的硼同位素的组成.结果表明,随着涂样量的减少,硼同位素丰度测定比值(11B/10B)和测定精度有所下降.本文也给出了VG-354正热电离质谱测定纳克级硼同位素组成的最佳条件.结果表明,当涂样量大于100 ng B时,硼同位素丰度比的测量精度最佳,10 ng B是正热电离质谱法使用法拉第杯检测硼同位素组成的最低限量.本研究为开展低硼含量的海洋微体古生物,古土壤,河水等地质样品中的硼同位素组成质谱测定提供了依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖应凯	中国科学院青海盐湖研究所	61	508	14.0	18.0
2	魏海珍	中国科学院青海盐湖研究所	24	156	9.0	12.0
3	孙爱德	中国科学院青海盐湖研究所	11	42	4.0	6.0
4	王庆忠	中国科学院青海盐湖研究所	14	54	4.0	7.0
5	张崇耿	中国科学院青海盐湖研究所	11	69	4.0	8.0