塑封继电器标志移印常见质量缺陷及对策

• 作者: 张浩华 张碧娟
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 塑封继电器标志 移印工艺 质量缺陷
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 工艺与材料
• 页码范围: 21-23,51
• 页数: 4页
• 分类号: TM58
• 字数: 3633字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2001.02.006

摘要

文章介绍了塑封继电器标志移印过程中常见质量缺陷和技术问题,在简要分析、讨论其产生的原因的同时,提出了相应的解决措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张碧娟		5	5	2.0	2.0
2	张浩华		1	0	0.0	0.0