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摘要:
用反应蒸发法制备的掺钼氧化铟(In2O3:Mo,IMO)薄膜在可见光区域的平均透射率(含1.2 mm厚玻璃基底)超过80%,电阻率最低达1.7×10-4 Ω*cm.采用等离子振荡波长法、van-der-Pauw法和光谱拟合法等三种方法对IMO薄膜和ITO薄膜的载流子浓度进行了测量和比较,结果表明IMO薄膜的载流子浓度还不到ITO薄膜的三分之一.因此,IMO薄膜对可见光的吸收小,有很大的发展空间可以通过提高载流子浓度而进一步提高电导率,对近红外线也有较高的透射率,有利于拓展透明导电薄膜的应用领域.
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文献信息
篇名 透明导电IMO薄膜的载流子浓度测量
来源期刊 光电子技术 学科 工学
关键词 透明导电薄膜 掺钼氧化铟 反应蒸发 载流子浓度
年,卷(期) 2001,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 245-250
页数 6页 分类号 TN304.055
字数 2471字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-488X.2001.04.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 沈杰 复旦大学材料科学系 79 645 12.0 22.0
2 杨锡良 复旦大学材料科学系 22 512 13.0 22.0
3 章壮健 复旦大学材料科学系 41 667 16.0 24.0
4 刘键 复旦大学材料科学系 4 47 3.0 4.0
5 孟扬 复旦大学材料科学系 6 180 5.0 6.0
6 陈华仙 复旦大学材料科学系 5 181 5.0 5.0
7 蒋益明 复旦大学材料科学系 45 486 11.0 21.0
8 林剑 复旦大学材料科学系 3 45 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
透明导电薄膜
掺钼氧化铟
反应蒸发
载流子浓度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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期刊影响力
光电子技术
季刊
1005-488X
32-1347/TN
16开
南京中山东路524号(南京1601信箱43分箱)
1981
chi
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