软件成熟能力模型实现缺陷排除率的提高及过程的预测

• 作者: 杨一平 马慧
• 来源期刊: 计算机系统应用
• 学科: 工学
• 关键词: CMM 缺陷排除率 预测性
• 年，卷（期）: 2001,（10）
• 所属期刊栏目: 专论·综述
• 页码范围: 66-68,71
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 3400字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3254.2001.10.023

摘要

软件成熟能力模型CMM注重开发能力的提高.CMM营造的开发环境有利于开发早期缺陷的排除和过程的预测.在CMM模型中描述了缺陷排除关键过程域.应用缺陷排除率DRE以及过程测评指标CPI、SPI能进一步证明应用CMM的重要作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马慧	首都经贸大学信息学院	4	17	2.0	4.0
2	杨一平	首都经贸大学信息学院	3	16	2.0	3.0