表面分析仪器及其技术进展之三：表面分析：XPS和AES

• 作者: 黄惠忠
• 来源期刊: 国外分析仪器技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 校准 背景扣除 价带谱 协同效应 多重分裂 深度剖析 XPS AES 表面分析仪器
• 年，卷（期）: gwfxyqjsyyy_2001,（3）
• 页码范围: 1-15
• 页数: 15页
• 分类号: TH838

摘要

本述评综合了1997年10月到1999年10月期间国际上在表面分析领域的发展情况，着重强调这些技术在目前发展水平方面改进的思路和新趋势。本文将有助于分析工作者解决在使用XPS和AES时所遇到的问题。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄惠忠	北京大学物理化学研究所	21	197	5.0	14.0