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摘要:
本述评综合了1997年10月到1999年10月期间国际上在表面分析领域的发展情况,着重强调这些技术在目前发展水平方面改进的思路和新趋势。本文将有助于分析工作者解决在使用XPS和AES时所遇到的问题。
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篇名 表面分析仪器及其技术进展之三:表面分析:XPS和AES
来源期刊 国外分析仪器技术与应用 学科 工学
关键词 校准 背景扣除 价带谱 协同效应 多重分裂 深度剖析 XPS AES 表面分析仪器
年,卷(期) gwfxyqjsyyy_2001,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-15
页数 15页 分类号 TH838
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄惠忠 北京大学物理化学研究所 21 197 5.0 14.0
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研究主题发展历程
节点文献
校准
背景扣除
价带谱
协同效应
多重分裂
深度剖析
XPS
AES
表面分析仪器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
国外分析仪器技术与应用
季刊
1001-7828
11-1088/TH
北京西直门葡萄院17号
出版文献量(篇)
1087
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7
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