年龄点t0之后的NBU性的非参数检验方法

• 作者: 李效虎
• 来源期刊: 应用概率统计
• 学科: 数学
• 关键词: 寿命分布 NBU*t0 U-统计量 检验统计假设
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 67-72
• 页数: 6页
• 分类号: O212.2
• 字数: 2016字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4268.2001.01.011

摘要

NBU*t0寿命分布中新元件的寿命随机地大于旧的年龄不小于t0的元件的剩余寿命，这为更广泛地模拟元件的老化和劣化现象提供了丰富的内容.本文首先对那些t0年龄点之后剩余寿命随机等于新元件寿命的元件的结构加以刻画，然后建立了一个非参数检验方法以区分这种随机等价性和t0年龄点后的严格的NBU性，并给出了针对一个NBU*t0但非NBU的寿命分布的例子的数值模拟结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李效虎	兰州大学数学系	20	41	3.0	5.0