氢氘化锂氘丰度质谱分析技术研究

• 作者: 喻祯静 张海路 李庆松 高策
• 来源期刊: 质谱学报
• 学科: 化学
• 关键词: 氢(氘)化锂氘丰度质谱分析
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 25-31
• 页数: 7页
• 分类号: O64
• 字数: 3000字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2997.2001.01.005

摘要

本文介绍了用低分辨MAT-250气体质谱计准确测定氢氘化锂中氘丰度的分析技术。结果表明，对不同氘丰度的气体样品，单次测定的相对标准偏差好于0.2％，氘丰度测量值在0.2％的误差范围内是可信的。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张海路	中国工程物理研究院材料研究所	13	44	4.0	6.0
2	喻祯静	中国工程物理研究院材料研究所	3	18	2.0	3.0
3	李庆松	中国工程物理研究院材料研究所	6	22	3.0	4.0
4	高策	中国工程物理研究院材料研究所	1	12	1.0	1.0