静电衰减时间常数测试仪的原理与设计

• 作者: 翟景升 范立思 魏光辉 魏明
• 来源期刊: 包装工程
• 学科: 工学
• 关键词: 衰减时间 电荷衰减 半衰期 测试方法
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 41-42,53
• 页数: 3页
• 分类号: TB498|TH89
• 字数: 1676字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3563.2001.02.015

摘要

比较了国内外常用的静电衰减时间测试仪器的优缺点，在此基础上提出新的测试方法，介绍了一种基于单片机的静电衰减时间测试仪器的研制过程。并对其测试结果作了分析讨论。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏光辉	军械工程学院静电技术研究所	186	1593	18.0	31.0
2	魏明	军械工程学院静电技术研究所	102	799	16.0	22.0
3	范立思	军械工程学院静电技术研究所	4	13	2.0	3.0
4	翟景升	军械工程学院静电技术研究所	3	20	2.0	3.0