利用BIST技术测试并诊断嵌入式存储器

• 作者: 范东华
• 来源期刊: 世界产品与技术
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 57-58
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

目前,绝大多数集成电路(IC)都设计有嵌入式存储器,IC的复杂化要求对它进行比传统的合格/不合格更深入一步的测试.随着IC几何尺寸日益浓缩,在制作工艺中应实现诊断测试和内置自修复(BISR)等新技术.在片上系统中,嵌入式存储器是最密集的器件,约占总面积的90%;它也是对工艺中的缺陷最敏感的器件,在片上系统内对它进行充分的测试是十分必要的.